Op de ochtend van 4 juni,
Peng Jingyue, secretaris-generaal van het Think Tank Committee van de China Metrology Association;Wu Xia, expert in industriële metrologie van het Beijing Great Wall Metrology and Testing Technology Institute;Liu Zengqi, Beijing Aerospace Metrology and Testing Technology Research Institute;Ruan Yong, president van Ningbo Metrology and Testing Society, en zes andere experts. De delegatie kwam naar het PANRAN-bedrijf voor onderzoek en begeleiding, en had gesprekken met de algemeen directeur van het PANRAN-bedrijf, de heer Zhang Jun, en ander relevant personeel.
De algemeen directeur van PANRAN, de heer Zhang Jun, vergezelde experts van het Think Tank Committee om de productieworkshop en het R&D-centrum van het bedrijf te bezoeken.
Op het symposium sprak de heer Zhang zijn dank uit aan het Think Tank Comité voor zijn aandacht voor het bedrijf, en legde hij de basissituatie van het bedrijf, het R&D-technologieniveau, het wetenschappelijk onderzoek en de productiecapaciteit uit aan de aanwezige experts, zodat de aanwezige experts echt konden voel de merkkracht en charme van PANRAN.
Peng Jingyue, secretaris-generaal van het Think Tank Committee van de China Metrology Association, bevestigde volledig het meetwerk van het bedrijf nadat hij naar de introductie van het bedrijf had geluisterd, en introduceerde de experts en het denktankcomité ter plaatse.De aanwezige experts waren lovend over de producten van het bedrijf.
Via dit forum en uitwisselingen hebben de twee partijen hun wederzijds begrip verdiept en hopen ze dit onderzoek aan te grijpen als een kans om de samenwerkingsgebieden te verbreden, gemeenschappelijke ontwikkeling te realiseren en tegelijkertijd hun respectieve voordelen te benutten, en bij te dragen aan het stimuleren van de ontwikkeling van de metrologie. industrie.
Posttijd: 21 september 2022
