Op de ochtend van 4 juni,
Peng Jingyue, secretaris-generaal van de denktankcommissie van de Chinese Vereniging voor Metrologie; Wu Xia, expert industriële metrologie van het Beijing Great Wall Metrology and Testing Technology Institute; Liu Zengqi, van het Beijing Aerospace Metrology and Testing Technology Research Institute; Ruan Yong, voorzitter van de Ningbo Metrology and Testing Society, en zes andere experts bezochten het bedrijf PANRAN voor onderzoek en advies. Ze hadden gesprekken met de algemeen directeur van PANRAN, de heer Zhang Jun, en andere betrokkenen.
De algemeen directeur van PANRAN, de heer Zhang Jun, begeleidde experts van de Think Tank Committee tijdens een bezoek aan de productiewerkplaats en het R&D-centrum van het bedrijf.
Tijdens het symposium sprak de heer Zhang zijn dank uit aan de Think Tank Committee voor hun aandacht voor het bedrijf en lichtte hij de aanwezige experts de basissituatie, het niveau van de R&D-technologie, het wetenschappelijk onderzoek en de productiecapaciteit van het bedrijf toe, zodat de aanwezigen de kracht en aantrekkingskracht van het merk PANRAN echt konden ervaren.
Peng Jingyue, secretaris-generaal van de Think Tank Committee van de Chinese Vereniging voor Metrologie, bevestigde na de presentatie van het bedrijf zijn volledige steun voor het meetwerk en introduceerde de aanwezige experts en de Think Tank Committee. De aanwezige experts spraken vol lof over de producten van het bedrijf.
Via dit forum en de uitwisselingen hebben beide partijen hun wederzijds begrip verdiept en hopen zij deze enquête te gebruiken als een kans om de samenwerkingsgebieden uit te breiden, gezamenlijke ontwikkeling te realiseren met behoud van ieders sterke punten, en bij te dragen aan de verdere ontwikkeling van de meetkunde-industrie.
Geplaatst op: 21 september 2022
