Van 3 tot en met 5 december 2020 werd, gesponsord door het Instituut voor Thermische Techniek van de Chinese Academie voor Metrologie en mede georganiseerd door Pan Ran Measurement and Control Technology Co., Ltd., een technisch seminar over het onderwerp "Onderzoek en ontwikkeling van zeer nauwkeurige digitale thermometers" en een bijeenkomst over "Methoden voor de evaluatie van de prestaties van nauwkeurige digitale thermometers" succesvol afgesloten aan de voet van de berg Tai, de top van de Vijf Bergen.
Deelnemers aan deze bijeenkomst zijn voornamelijk deskundigen en professoren van diverse metrologische instituten en de Jiliang Universiteit van China. De heer Zhang Jun, algemeen directeur van ons bedrijf, is uitgenodigd om deze bijeenkomst voor te zitten. De heer Zhang verwelkomt alle aanwezige experts en bedankt de docenten voor hun steun en hulp aan Pan Ran door de jaren heen. Het is alweer vier jaar geleden dat de eerste bijeenkomst over digitale thermometers plaatsvond. In deze periode hebben digitale thermometers zich snel ontwikkeld en zijn ze steeds stabieler geworden. Ze zijn zowel lichter als compacter geworden, wat onlosmakelijk verbonden is met de snelle technologische ontwikkeling en de inspanningen van alle wetenschappers. Dank voor uw bijdragen en de opening van de conferentie is in zicht.
Tijdens de bijeenkomst gaf de heer Jin Zhijun, onderzoeker verbonden aan het Instituut voor Thermische Techniek van de Chinese Academie voor Metrologie, een samenvatting van de "R&D-fase van de zeer nauwkeurige digitale standaardthermometer" en introduceerde hij de belangrijkste onderzoeksinhoud van deze thermometer. Het ontwerp, de meetfout en de stabiliteit van de elektrische meetapparatuur werden toegelicht, evenals het belang en de invloed van een stabiele warmtebron op de resultaten.
De heer Xu Zhenzhen, directeur van de R&D-afdeling van PANRAN, gaf een presentatie over het thema "Ontwerp en analyse van precisie digitale thermometers". Directeur Xu gaf een overzicht van precisie digitale thermometers, de structuur en principes van geïntegreerde digitale thermometers, onzekerheidsanalyse en prestaties tijdens de productie. Vijf evaluatieonderdelen en diverse belangrijke kwesties werden besproken, en het ontwerp en de analyse van digitale thermometers werden gedetailleerd toegelicht.
De heer Jin Zhijun, onderzoeker verbonden aan het Instituut voor Thermische Techniek van de Chinese Academie voor Metrologie, gaf een presentatie over het "Overzicht van de tests met precisie digitale thermometers 2016-2018", waarin de resultaten van de afgelopen drie jaar werden getoond. Qiu Ping, eveneens onderzoeker verbonden aan het Instituut voor Thermische Techniek van de Chinese Academie voor Metrologie, deelde zijn bevindingen over "Aanverwante kwesties met betrekking tot standaard digitale thermometers".
Tijdens de bijeenkomst werden de ontwikkeling en toepassing van precisie digitale thermometers, evaluatiemethoden voor precisie digitale thermometers (groepsnormen), testmethoden en testplannen voor precisie digitale thermometers besproken. Deze uitwisseling en discussie is belangrijk voor de uitvoering van het Nationale Sleutelprogramma voor Onderzoek en Ontwikkeling (NQI). Binnen het project "Onderzoek en ontwikkeling van een nieuwe generatie normen voor zeer nauwkeurige thermometers" is er aanzienlijke vooruitgang geboekt met betrekking tot "Onderzoek en ontwikkeling van zeer nauwkeurige standaard digitale thermometers", de samenstelling van de groepsnormen voor "Prestatie-evaluatiemethoden voor precisie digitale thermometers" en de haalbaarheid van het vervangen van standaard kwikthermometers door precisie digitale thermometers.
Tijdens de bijeenkomst bezochten experts zoals de heer Wang Hongjun, directeur van het Instituut voor Thermische Techniek van het Chinese Metrologisch Instituut, samen met onze algemeen directeur, de heer Zhang Jun, de tentoonstellingsruimte, de productiewerkplaats en het laboratorium van het bedrijf. Zij maakten kennis met de wetenschappelijke onderzoeks- en productiecapaciteit van ons bedrijf, de bedrijfsontwikkeling, enzovoort. De experts spraken hun waardering uit voor ons bedrijf. Directeur Wang gaf aan dat hij hoopt dat het bedrijf, door gebruik te maken van zijn eigen sterke punten, het niveau van wetenschappelijk onderzoek en productie voortdurend kan verbeteren en een grotere bijdrage kan leveren aan de nationale metrologie-industrie.
Geplaatst op: 21 september 2022
